- Prof. Dr. Sezer Gören Uğurdağ
- Abdullah Yıldız
- Cemil Cem Gürsoy
Son yıllarda önerilen çoklu-darbeli testler yüksek test kalitesi sunmaktadır. Çoklu-darbeli testler, giriş vektörü birden fazla darbeyle devreye uygulayarak ve devreyi fonksiyonel durumda çalıştırarak yapılır. Çoklu-darbeli testler çoklu-saat içeren ya da kısmi-tarayıcılı devreler için gereklidir. Bunların yanı sıra, çoklu-darbeli testler aynı vektör ile daha fazla hata yakalayabildikleri ve buna bağlı olarak test süresini ve test maliyetini düşürebileceklerinden sayısal entegre devre sektöründe ilgi uyandırmışlardır. Fakat, çoklu-darbeli testlerin oluşturulmasında kullanılan hata benzetimi yüksek hesaplama gerektirmektedir. Bu projede, çoklu-darbeli testler için hata emülasyonu yöntemi geliştirilmiştir.
BAŞLANGIÇ: 2014
BİTİŞ: 2016
PROJE NO: 114E022
KURUM: TÜBİTAK
BUDGET: 72.843TL
DURUM: Sonuçlandı